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漫反射率測量系統漫反射，是投射在粗糙表面上的光向各個方向反射的現象。當一束平行的入射光線射到粗糙的表面時，表面會把光線向著四面八方反射，所以入射線雖然互相平行，由于各點的法線方向不一致，造成反射光線向不同的方向無規則地反射，這種反射稱之為"漫反射"或"漫射"。漫射光是指從光源發出的光進入樣品內部，經過多次反射、折射、散射及吸收后返回樣品表面的光，漫反射光測量可用來分析與樣品內部分子發生作用以后的光，攜帶有豐富的樣品結構和組織信息．與透射光相比，雖然透射光中也負載有樣品的結構和...
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太陽模擬器在創新中成長壯大太陽模擬器作為光源，在某中意義上說，可以等同于太陽光源，可以模擬太陽光照射。由于太陽模擬器本身體積較小，測試過程不受環境、氣候、時間等因素影響，從而避免了室外測量的各種因素限制。太陽模擬器廣泛應用于太陽能電池特性測試，光電材料特性測試，生物化學相關測試，光學催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測，環境研究等。一、太陽模擬器特性:1.可以實現不同光照面積測試，從2inch×2inch到8inch×8inch不等。2.可以達到A類標準。3.太陽模擬器壽命長，...
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組合式拉曼光譜測量系統選型表主型號**OmniRS-532OmniRS-Micro拉曼光譜范圍200-4,000cm-1（典型值）分辨率≤5cm-1激光器標配：532nm（100mW，TEM00）選配：488nm、632.8nm、785nm等光譜儀規格焦距500mm，影像校正，三光柵塔臺，USB接口光譜儀光譜范圍200-2500nm探測器制冷型CCD2000*256200-1100nmPMTH-S1-R1527200-670nm暗計數制冷型CCD2000*256200-110...
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光致發光(photoluminescence)即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm等）激發材料（如GaN、ZnO、GaAs等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。光致發光可以提供有關材料的結構、成分及環境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關領域被廣泛應用。Omn...
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OmniFluo“卓譜”組合式熒光光譜測量系統采用高性能“譜王”Omni-λ系列光譜儀/單色儀、高靈敏度單通道或多通道探測器，采用單光子計數技術或鎖相放大技術，大的提高了熒光探測的靈敏度，使得純水拉曼信噪比達到1000:1以上的水平。OmniFluo“卓譜”組合式熒光光譜測量系統將PL和PLE兩種熒光測試需求結合，采用模塊化設計，可以根據需要進行系統架構的靈活調整，實現常溫及低溫下的熒光光譜、激發光譜測量。性能特點■模塊化的結構設計——各功能模塊結合，根據需要進行選擇，后續升...
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基于成像光譜技術對蘋果斑點及損傷快速識別研究四川雙利合譜科技有限公司-黃宇引言隨著人們生活水平的提高，消費者越來越關注果蔬的品質安全問題。如造成水果表面出現黑白斑的內部腐爛、水果因運輸等原因造成的碰傷、損傷等，從而嚴重影響消費者的身體健康。因此水果黑白斑、碰傷損傷的快速有效的識別具有重要的研究價值。高光譜圖像技術結合了光譜分析和圖像處理的技術優勢，國內外許多學者對研究對象的內外部品質特征進行檢測分析，如趙杰文等利用高光譜圖像技術檢測水果輕微損傷，準確率為88.57%；Jasp...
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基于成像光譜技術的橙子斑點及損傷快速識別研究四川雙利合譜科技有限公司-黃宇引言隨著人們生活水平的提高，消費者越來越關注果蔬的品質安全問題。如造成水果表面出現黑白斑的內部腐爛、水果因運輸等原因造成的碰傷、損傷等，從而嚴重影響消費者的身體健康。因此水果黑白斑、碰傷損傷的快速有效的識別具有重要的研究價值。高光譜圖像技術結合了光譜分析和圖像處理的技術優勢，國內外許多學者對研究對象的內外部品質特征進行檢測分析，如趙杰文等利用高光譜圖像技術檢測水果輕微損傷，準確率為88.57%；Jasp...
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拉曼光譜對于分子鍵合以及樣品的結構非常敏感，因而每種分子或樣品都會有其*的光譜“指紋”。這些“指紋”可以用來進行化學鑒別、形態與相、內壓力/應力以及組成成份等方面的研究和分析。拉曼光譜能夠探測材料的化學結構，它提供的信息包括：化學結構和化學鑒別；相和形態；應力；污染物和雜質；一般而言，拉曼光譜是特定分子或材料*的化學指紋，能夠用于快速確認材料種類或者區分不同的材料。在拉曼光譜數據庫中包含著數千條光譜，通過快速搜索，找到與被分析物質相匹配的光譜數據，即可鑒別被分析物質。如圖所示...
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