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技術(shù)文章Technical Article
創(chuàng)新檢測(cè)方法:分子印跡-電化學(xué)-SERS三合一策略用于蔬菜啶蟲脒殘留分析
電驅(qū)SERS技術(shù):從材料設(shè)計(jì)到平臺(tái)構(gòu)建實(shí)現(xiàn)復(fù)雜基質(zhì)農(nóng)藥精準(zhǔn)分析
光學(xué)調(diào)整架原理解密:如何實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)光路調(diào)控與國產(chǎn)替代方案
可調(diào)單色光源:實(shí)驗(yàn)室研發(fā)到工業(yè)生產(chǎn)的全場(chǎng)景光工具
晶圓缺陷參數(shù)檢測(cè) : 非接觸測(cè)試解決方案
超高真空光學(xué)拉曼光譜測(cè)試系統(tǒng)
晶圓缺陷檢測(cè):寬場(chǎng)熒光顯微成像模組
zolix-近中紅外熒光光譜系統(tǒng)
CXZ10-120電動(dòng)升降滑臺(tái)|滾珠絲杠
CXZ10-120
RTS-LTRS光鑷-拉曼光譜聯(lián)用系統(tǒng)
RTS-LTRS
半導(dǎo)體缺陷檢測(cè):自動(dòng)化顯微成像模組
手持式傅里葉變換紅外物質(zhì)分析儀FI-RXMI100
傅里葉變換近紅外光譜儀FI-RXT-TS
便攜式傅里葉變換紅外光譜儀FI-RXMo100
傅里葉變換近紅外光譜儀FI-RXM-S
真空型傅里葉變換紅外光譜儀FI-RXF300V
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